9月27日上午，分析测试中心主办的X射线显微镜与双束电镜应用交流会在枫林校区图书馆迎宾厅召开，卡尔蔡司（上海）管理有限公司相关人员作技术讲座。

卡尔蔡司（上海）管理有限公司沈宝云介绍了X射线显微成像原理和成像过程、蔡司微米CT设备其技术特点，就设备的应用范围展开了案例说明。康泽文介绍了双束电子显微镜（FIB-SEM）的工作原理和其应用领域。

报告会后，专家和与会人员进行了互动交流。

师生代表40余人参加会议。