X荧光光谱仪

X-Ray Fluorescence Spectrometer

仪器型号：ZETIUM

生产厂家：Malvenrn Panalytical

工作原理

X射线荧光光谱仪(XRF)是一种利用利用X射线与物质相互作用原理进行分析的仪器。当X射线照射到物质表面时，物质中的原子会吸收X射线的能量并发生能级跃迁，随后原子从高能态返回到低能态时，会释放出具有特定能量的荧光X射线。这些荧光X射线的能量和强度与被测物质的元素组成和含量密切相关，因此可以通过测量荧光X射线的特征来分析物质的成分和特性。

主要功能及应用领域

X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，广泛应用于钢铁、有色、石化、地质、玻璃、电子、纳米材料等材料的化学元素成分快速分析。

主要技术指标及参数

1. 仪器功率:铑靶端窗X光管，4 kW。

2. 分析元素范围:08-Am95。

3. 样品元素浓度范围:ppm-100%。

4. 准确度:0.05%(相对误差)。

送样要求

1. 固体:试样均匀、表面平整、无污染，样品尺寸35*35 mm。

2. 粉末:a、压片法:样品均匀、粒度>200目(手感如珍珠粉)，样品量>5 g；b、熔片法:样品均匀、粒度>200目，样品量（0.5-2 g）；c、粉末样品在105℃条件下(不改变物质结构)烘干2小时，硫化物、金属单质及含有危险物质的样品需特殊注明；d、一般情况下不接受采用压片法和熔片法测试的块体样品，需将块体样品粉碎，磨细至粒度>200目(手感如珍珠粉)；e、对于粉煤灰、飞灰、高岭土、(微晶)玻璃、矿粉、石墨、硅灰、长石、硅藻土、云母、石英、活性炭、煤或其他需要添加粘结剂的样品(如硅、铝、镁含量较高的样品)等。